Бетехтин А. Г. Курс минералогии



Pdf көрінісі
бет69/691
Дата25.12.2022
өлшемі4,45 Mb.
#59562
түріУчебное пособие
1   ...   65   66   67   68   69   70   71   72   ...   691

Глава 3. О методах детальных минералогических исследований
111
ройству очень близкую к колонне
электронного микроскопа (рис. 37).
После вакуумирования колонны
фокусированный пучок уско
ренных в электрическом поле
(50–300 КВ) электронов (соб
ственно электронный зонд) на
правляется на поверхность пре
парата, возбуждая в его атомах
характеристическое рентгенов
ское излучение, которое фикси
руется счетчиками того или ино
го типа. Сечение зонда может
быть доведено до 1 микрометра в
диаметре, глубина области воз
буждения имеет обычно тот же
порядок. Сигналы с детекторов
усиливаются и преобразуются в
электрические импульсы, кото
рые поступают для обработки в компьютер. При машинной обработке
анализируется спектр излучения, в составе которого пики, соответству
ющие определяемым элементам, оцениваются по мощности, которая
пропорциональна содержанию этих элементов в образце.
Для получения наиболее точных (относительная ошибка — 1–2 % при
содержаниях от 1 % вес. и выше) количественных результатов, характе
ристическое излучение, генерируемое атомами определяемого элемента
в исследуемом минерале, сравнивается с излучением эталона с извест
ным содержанием данного элемента. В этом случае используются прибо
ры с волновыми детекторами излучения; каждое новое элементоопреде
ление при такой схеме работы требует изменения настройки детектора.
Энергодисперсионный детектор излучения позволяет определять
практически все присутствующие элементы одновременно в течение при
близительно однойдвух минут, однако точность таких определений на
порядок ниже, а ухудшение разрешения квантов излучения по энергии
может приводить к перекрыванию пиков спектра и, следовательно, к не
различению некоторых элементов. Оптимальным для серийного анализа
является прибор, снабженный одним энергодисперсионным и несколь
кими волновыми детекторами.
При микрозондовом анализе возможно не останавливаться в одной
точке образца, а применять сканирующий режим, что позволяет оцени
вать распределение содержания элемента по площади образца. Применя
ется также съемка в обратно рассеянных электронах и некоторые другие
режимы работы, что доставляет множество ценных сведений об образце.
Рис. 37. Электроннозондовый микроанали
затор


Общая часть
112
1
Источниками получения ультрафиолетовых лучей служат ртутная кварцевая лам
па или искровой разрядник, а катодных лучей — катодные трубки как с горячим, так и
с холодным катодом, причем в последнем случае явления люминесценции наблюдаются
в вакууме.


Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   65   66   67   68   69   70   71   72   ...   691




©emirsaba.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет