Дифракциялық әдістер сәуленің немесе бөлшек ағынының серпімді шашырауының (энергиясы өзгермейтін) біріншілік эффектілеріне негізделген. Шашыраудың дифракциялық суретінің пайда болуы сәуле мен бөлшектердің толқындық қасиетімен түсіндіріледі: және . Дифракция шарты: толқын ұзындығы сәулені шашатын атомдардың ара қашықтығына жақын немесе аз болуы керек, себебі, толқындардың интерференциялану нәтижесі шашыраған сәулелердің жол айырымына тәуелді.
Дифракциялық әдістің үш түрі кең тараған, олар – рентгенография, электронография және нейтронография: нм; нм (40 кэВ шамасындағы электрондар энергиясы үшін); нм (жылулық нейтрондар үшін). Спектрлердегі шашырау интенсивтілігі шашырау бұрышына сәйкес өлшенеді және олардың таралуы құрылымдық параметрлерге тәуелді. Рентген сәулелері атомдар мен молекулалардың электронымен шашырайды; электрон шоғы – ядролар мен электрондардың электр өрісімен шашырайды; нейтрон шоғы – ядро күштерінің әсерінен шашырайды. Атомдардың суммалық шашырау қабілеті келесі қатынас арқылы байқалады: Ір:ІЭ:Ін1:106:10-2. Сондықтан электронография әдісімен газ фазасын және жіңішке пленкаларды (10-6-5 см), рентген- және нейтронография әдістерімен конденсацияланған фазаларды (қалыңдығы мм үлестен бірнеше мм дейін) зерттейді. Бұл кезде рентгенді сәуле мен электрондар үшін шашырау интенсивтілігі элементтің атомдық номерінің өсуіне сәйкес өседі, ал нейтрондар үшін үнемі тұрақты болып қалады. Осыған сәйкес, алғашқы екі әдіс ауыр металдардың қосылыстарын зерттеу үшін қолайлы, ал үшінші әдіс, көбіне, сутегі атомдарының координаттарын анықтау үшін қолданылады.
Физикалық әдістердің басқа түрлеріне, соның ішінде, оқу құралында қарастырылмайтын әдістерге келетін болсақ, онда оптикалық әдістерді спектроскопиялық әдістерге жатқызуға болады, бірақ бұл кезде зондтап сәулеленудің поляризациясы немесе екіншілік эффектілер: оптикалық айналу, шеңберлі дихроизм, Керр эффектісі, т.б. зерттеледі. Масс-спектрометрияда молекулаларды әр түрлі әдістермен иондаған кезде түзілген иондар массасы бойынша таралуын, яғни заттың өріспен, сәулемен, бөлшек ағынымен әсерлесуінің екіншілік эффектісін қарастырады. Фотоэлектрондық спектроскопия рентгендік және ультракүлгін сәулелерінің әсерлесуінің екіншілік эффектісін ұрып шығарылған электрондардың энергиясына қарай таралуын талдау негізінде зерттейді. Газды хроматографияда заттардың адсорбентпен әсерлесу энергиясының таралуы талданады.
Жаңа техниканың, эксперименталдық физика мен физикалық теорияның дамуы физикалық зерттеу әдістерінде жаңа мүмкіндіктердің пайда болуына, олардың сезімталдығының, айыру қабілетінің және басқа сипаттамаларының өсуіне, жаңа құбылыстарды ашуға және олардың негізінде жаңа физикалық әдістердің (мысалы, ядролық гамма-резонанс әдісі, сызықты емес оптика әдісі) пайда болуына алып келеді. Мүмкіндіктердің елеулі өсуі әр түрлі әдістерді интеграциялау нәтижесінде (мысалы, ИҚ-спектроскопия әдісін КШ-спектроскопиясымен байланыстыру) пайда болады, бұл, әсіресе, кері есептің дәлдіксіз қойылған жағдайында маңызды. Маңызды мәселелердің бірі есептің тиімділігін, практикалылығын, жеңілділігін ескере отырып, оптималды әдісті (немесе әдістер тобын) таңдап алуға мүмкіндік береді.
Достарыңызбен бөлісу: |