Основные понятия и термины нанонауки и нанохимии



Pdf көрінісі
бет3/14
Дата17.10.2022
өлшемі1,04 Mb.
#43640
түріРеферат
1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   14
Байланысты:
FHNM

3.2. Масс-спектрометрия 
 
Масс-спектрометрия – метод исследования веществ путем их ио-
низации с последующей регистрацией масс-спектра (двумерного ото-
бражения количества заряженных частиц в зависимости от отношения 
их массы к заряду). В основе метода лежит процесс ионизации веще-
ства в вакууме с последующей регистрацией полученных ионов. По 
спектру регистрируемых ионов можно получить информацию о моле-
кулярной массе вещества, его структуре, провести оценку концентра-
ции веществ, находящихся в смеси. 
Устройство масс-спектрометра показано на рис. 3.4 [2]. Наноча-
стицы ионизируют бомбардировкой электронами, испускаемыми разо-


20 
гретым катодом (f) в ионизационной камере (I), образующиеся части-
цы поступают в масс-анализатор. Заряд наноразмерных ионов обычно 
известен, так что практически определяется их масса. 
Рис. 3.4. Схема масс-спектрометра: А – ускоряющая пластина, или экс-
трактор, Е – электронная ловушка, f – нить накаливания, I – ионизаци-
онная камера, L – фокусирующие линзы, R – отражатель частиц, S – 
щели 
 
3.3. Микроскопические методы 
Микроскопия подразделяется на три большие области: оптиче-
ская, электронная и сканирующая зондовая. В оптической и электрон-
ной микроскопии используются дифракция, отражение или преломле-
ние электромагнитного излучения или электронных пучков при взаи-
модействии с исследуемым объектом с последующей регистрацией из-
лучения для построения изображения. Это может происходить как при 
облучении поля изображения образца целиком, например, в обычной 
оптической микроскопии или просвечивающей электронной микро-
скопии, так и при сканировании образца пучком маленького размера, 
например, в конфокальной лазерной сканирующей микроскопии или 
сканирующей электронной микроскопии.  


Достарыңызбен бөлісу:
1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   14




©emirsaba.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет