Утверждено



Pdf көрінісі
бет356/444
Дата27.11.2023
өлшемі4,59 Mb.
#130262
түріПротокол
1   ...   352   353   354   355   356   357   358   359   ...   444
Байланысты:
ООП 06.03.01 Биология Ботаника очная 2020

Правильный ответ: б 
 
Ситуационные задачи: 
Развернутое эссе 
1. 
Опишите основные методы характеризации наночастиц. 
Правильный ответ
: Распространенные методы характеризации наноструктур и 
наноматериалов: электронная микроскопия, сканирующая зондовая микроскопия, 
спектроскопия, магнитно-резонансные методы. Электронная микроскопия 
позволяет получать прямые изображения образца, определять его элементный 
состав и изучать кристаллическую структуру. К электронной микроскопии 


относятся просвечивающая электронная микроскопия, растровая электронная 
микроскопия 
и 
их 
разновидности 
высокого 
разрешения. 
Разрешение 
просвечивающей электронной микроскопии составляет порядка 0,1 нм, а 
растровой электронной микроскопии — порядка 1-5 нм. Разрешающая 
способность современных методов электронной микроскопии позволяет 
визуализировать многие типы наночастиц и характеризовать их форму, размеры, 
ультраструктуру, дисперсность, агрегированность, массовую концентрацию. 
Недостатками 
методов 
электронной 
микроскопии 
являются 
сложности 
пробоподготовки, влияние условий высокого вакуума в процессе измерений, 
высокая стоимость оборудования. Методами электронной микроскопии 
затруднено выявление структур, образованных легкими атомами (первый—третий 
периоды периодической системы, в том числе углерод). 
Термин «сканирующая зондовая микросокпия» (СЗМ) объединяет широкий 
комплекс методов изучения поверхности твердых тел. При использовании СЗМ 
поверхность исследуют с помощью зонда, имеющего радиус кривизны порядка 1-
10 нм. В каждый конкретный момент времени исследователь получает 
информацию о малом участке поверхности. Для получения информации о 
большей площади осуществляется процесс сканирования — относительного 
перемещения зонда и образца друг относительно друга. Сканирующая зондовая 
микроскопия позволяет получать информацию о рельефе и дефектах структуры 
поверхности на расстояниях, близких к атомным. Наиболее широко 
распространенными типами СЗМ являются сканирующая туннельная микроскопия 
(СТМ) и атомно-силовая микроскопия (АСМ). Методы спектроскопии основаны на 
спектральных измерениях величин пропускания, поглощения, отражения, 
испускания. Они позволяют определять химический состав образца, проводить 
количественный анализ распределения химического состава по толщине образца. 
Спектральные методы используют для детекции и идентификации техногенных 
наночастиц в воде и органических растворителях. Методы флуоресцентной 
спектроскопии применяются для обнаружения флуоресцентных наночастиц. 
Метод комбинационного светорассеяния позволяет выявлять наночастицы в 
сложных системах, например, углеродные нанотрубки в органах мышей. 
Спектроскопия корреляционного релеевского светорассеяния, основанная на 
регистрации плазмонного резонанса, используется для характеристики 
наночастиц золота и серебра. Магнитно-резонансные методы позволяют 
проводить химический анализ исследуемого образца. Магнитный резонанс 
включает изучение микроволновых и радиочастотных переходов электронов и 
ядерных спинов. 


Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   352   353   354   355   356   357   358   359   ...   444




©emirsaba.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет