11
1.1.3.2 Төмен жиіліктегі диэлектрлік шығындар бұрышының
тангенсін жəне диэлектрлік өткізгіштігін анықтау
Шығыны бар диэлектриктің үлгісі баламалы тізбекті немесе параллель
схема түрінде ұсынылуы мүмкін (2-сурет):
2-сурет. Баламалы тізбекті немесе параллель схемалар
Фазаның ығысу сұлбасын таңдауына қарамастан j, ток I, кернеу U жəне
диэлектрлік шығындар p өзгеріссіз. Дəйекті схема үшін келесі арақатынастар
əділ:
tgδ = ω
; =
=
(
)
(2)
мұндағы:tg δ – бұрыш; ω –фазалардың жылжуы; С
s
– сыйымдылық; R
s
-
кедергі; Р – қуаты
I
2-
электртогы; U
2
–кернеу.
Параллель схема үшін:
tgδ =
(
)
; =
(3)
tg δ << 0,1 болғанда:
C
s
= C
p
; R
s
= Rptg
2
δ (4)
Параллель схемадағы C
p
сыйымдылығы əдетте C
x
үлгісінің
немесе
бұйымның сыйымдылығы ретінде қабылданады. e
r
үлгісінің материалының
диэлектрлік өткізгіштігі электродтардың берілген
конфигурациясы кезінде
жəне диэлектрик ретінде сыналатын материалда вакуумдағы үлгісіз сол
электродтардың С
0
сыйымдылығына қатынасы ретінде табылуы мүмкін:
=
(5)
tgδ шамасы жоғарыда келтірілген формулалар бойынша анықталуы
мүмкін.
12
Қатты материалдардың tgδ жəне e
r
анықтау үшін
графит ұнтағынан
электродтарды қоспағанда, меншікті кедергіні анықтау кезіндегі электродтар
қолданылады.
Төмен жиіліктер кезінде tgδ жəне сыйымдылықты өлшеу əдістері
мен құралдары.
Тура жəне жанама əдістерді қолданады. Негізінен айнымалы тоқтың
көпірлік схемалары қолданылады, мысалы:
Көпірдің тепе-теңдік теңдеулері:
=
;
=
. (6)
Жоғары жиіліктегі диэлектрлік өткізгіштікті жəне
диэлектрлік
шығындардың тангенсін анықтау шетті кəсерлердің өсуімен, жеткізуші
сымдар индуктивтілігімен жəне т.б. байланысты ерекшеліктерге ие. 400 Гц
жоғары жиіліктерде көпірлік жəне резонанстық əдістермен
өлшеуді
орындайды
Сыйымдылықтың температуралық коэффициентін өлшеу жиілік
беретін сыйымдылық ретінде қосылған үлгінің температурасы өзгерген кезде
генератор жиілігінің өзгеруін өлшеуге негізделген.
Достарыңызбен бөлісу: 
