Бетехтин А. Г. Курс минералогии
жүктеу/скачать 4,45 Mb. Pdf көрінісі
|
| Электронноjмикроскопичеj
ские исследования. Как извест но, предел разрешения микроско па (различимости мельчайших по размерам частиц) зависит в зна чительной мере от длины волны света, падающего на объект (чем меньше длина волны света, тем более мелкие детали могут быть рассмотрены в микроскоп). Раз решающая способность обычных оптических микроскопов сравнительно невелика: при наблюдении в бе лом свете могут различаться частички размером около 0,5 µ. При микро фотографировании в более коротковолновом ультрафиолетовом свете и при применении иммерсионных объектов с большой апертурой предел раз личимости можно снизить до 0,2 µ. Однако при использовании ультрако ротковолнового электронного пучка (в электронных микроскопах особого устройства) разрешающая способность возрастает во много раз (до 0,002 µ). Таким образом, с помощью электронного микроскопа (рис. 38) могут быть исследованы тонкодисперсные вещества: дым и пыль, осевшие на тонких металлических сетках, взвеси глинистых продуктов в воде (для этого кап ля взвеси высушивается на предметном стекле) и пр. К сожалению, электроны обладают весьма ограниченной способностью проникать в вещество (частицы его, прозрачные для световых лучей, в элект ронном потоке оказываются обычно непрозрачными). Поэтому электронно микроскопические исследования нередко дают лишь общее представление о формах и размерах частиц, рассматриваемых этим способом. Кроме того, для компактных объектов существует «метод реплик» (отпечатков поверхностей с помощью получения на них тонких колло диевых или кварцевополистироловых и других пленок), передающих тонкие особенности рельефа граней кристаллов, а также протравленных или непротравленных полированных плоскостей минералов. Повышение ускоряющего напряжения современных электронных микроскопов в комбинации с применением новых методов и приборов (ионное утонение, ультрамикротомы) для получения сверхтонких пре |