олардын кристаллы торларынан параметрлсрш аныкіауіа қолдануіа бодали.
Казіргі кезде электронография (электрондар дифракаияси) жэне нейтроноі
рафия (нейтрондар дифракциясы) әдісіері кенінен крлданылады.
Мынадай сұрактар туындауы мумкін: еіер жеке бөлшектерді кдрасіырсак
олар кандай күйде болады, жеке болшекіерде максимум және минимум ка
лай кұрылады0 Электрондардын өте аз шотырын, ятни жеке бөлцтектін жа-
кын күйін зерттегенде, электрондар барликбатыт бойынша «жайылмайгыны»
байкалды. демек олар жеке болшектік қасиетін сактайды. Ьірак әргурлі багыі
бойынша ауытқу ыктималдыты электронный нысанмен осерлесуі қезінде әр
түрлі болады. Электронный дифракциянын максимум іусында болу ыкіима.і
дылығы жоғары. ал минимум тұсында болуы томен. Демск, толқындык касисі
электрондар тобына ғана емес, жеке электрондарта да тан.
28.2. ЭЛЕКТРОНДЫ МИКРОСКОП.
ЭЛЕКТРОНДЫ ОПТИКА ТУРАЛЫ ТҮСІНІК
Бөлшектердін толкындык касиетін тек кдна дифракциялык курылымдык
сараптама үшін ғана емес, сонымен катар дененін улкейтілген кесіндісін алуга
да колдануға болады.
(26.19)
тендеуінен оптикалык микроскоптың рукеат егу шегі адамнын кезі
кабылдайтын жарыктын толқын үзындьнынын шекті манінен аныкталады.
Бүл формулаға (28.3) формуласы де Бройль толкын узындытынын манін қой-
сак. затгын электронды шоғырлар арқылы күралтан кескінді беретін электрон -
ды микроскоптын рұксат ету шегін аламыз:
Достарыңызбен бөлісу: