4. Интерференция на тонких пленках. Полосы равного наклона. Интерференция на тонких пленках представляет собой интерференцию света по методу деления амплитуды. Представим себе, что свет от источника S падает на тонкую прозрачную пластину толщиной h и показателем преломления n (рис. 3)
рис.3
В любую точку P, находящуюся с той же стороны от пластинки, что и источник, приходят два луча. Эти лучи, идущие от S к P, порождены одним падающим лучом и после отражения от передней и задней поверхностей пластинки параллельны друг другу. Оптическая разность хода между ними в точке P равна:
(11)
где n – показатель преломления пластины, пластина находится в воздухе, чей показатель преломления равен nc = 1. Из геометрии рисунка определяем |AB|, |BC|, |AD|:
(12)
здесь - угол падения, - угол преломления. Подставив выражения (12) в (11) получаем:
При отражении света от границы раздела двух сред наблюдается потеря полуволны. Если n > nс, то потеря полуволны произойдет в точке A и полуволна 0/2 будет иметь знак « - »; если же n < nс, то потеря полуволны произойдет в точке B и будет иметь знак «+». Таким образом разность хода волн в отраженном свете равна:
(13)
В точке Р будет интерференционный максимум, если
(14)
и интерференционный минимум, если
(15)
В уравнениях (14), (15) m обозначает порядок интерференции. Полоса, соответствующая данному порядку интерференции, обусловлена светом, падающим на пластинку под вполне определенным углом α. Поэтому такие полосы называют интерференционными полосами равного наклона. Е сли пленка идеальна, однородна и плоскопараллельна, то в зависимости от ее толщины, поверхность пленки оказывается либо равномерно освещенной, либо равномерно затемненной.
Если толщина пленки неодинакова, то наблюдается чередование светлых и темных полос, что позволяет осуществлять контроль качества поверхности.