2. 0 E және H векторлары нақты бір жазықтықта жататын болса,электромагниттіктолқындар:
поляризацияланғанжарық
Поляризатор және анализатор жазықтықтарының арасындағы бұрыш анализатордан өткен жарықтың қарқындылығы үлкен болуүшін:
1. 00 Толық шағылудың шекті бұрышыныңформуласы:
3. sin 𝑖шек =𝑛2/𝑛1
280. Кезкелгензаттанөткендегіжарыққарқындылығыныңкемуі,жәнесоның есебінен жарық энергиясының энергияның басқа түрінеайналуы: жарықтыңжұтылуы
281. Медицинада рефрактометрдіңқолданылуы: биологиялық сұйықтардың сыну көрсеткішін және оның концентрациясын анықтауүшін
282. Интерференциялық рефрактометранықтайды: оптикалық ортаның сыну көрсеткішінөлшеу
283. Заттарды зерттеудің поляриметрлік әдісінің негізі –ол: оптикалық белсенді заттармен табиғи жарықтың поляризация дәрежесін өлшеу
284. Жоғарыдәлдікпентолқынұзындығын,үлкенемесқашықтықтарды,заттың сыну көрсеткішіін және оптикалық беттердің сапасын анықтау үшін қолданылатынқұрал: интерферометр Брюстер заңы:
3. 𝑡𝑔𝑖Б =𝑛 Оптикалық белсенді зат ерітіндісі поляризация жазықтығының бұрылу бұрышы:
292. Сфералық жарық толқындарының оптикалық жүйеден өтуі кезіндегі деформацияға ұшырап, сфералық болмай қалуына әсер ететін оптикалық жүйенің кемшілігі: астигматизм
сфералықабберация
хроматикалықабберация
дисторсия
фокустеу
293. Микропроекция: объектіні бүйір жағынан жарықтандыруға негізделген микроскопияның әдісі
экранда микроскопиялық кескін алуға негізделген
фотопленкада (фотопластинада) микроскопиялық кескін алуға негізделген
микроскопкөмегіменмикроскопиялық объектілердің өлшемін өлшеу үшінқолданылады
экранда микроскопиялық объектілердің кескіннің проекциясының өлшемін өлшеу үшінқолданылады