Дәрістер тезистері
Жаңа ашылуларға арналған аспаптар
жүктеу/скачать 3,65 Mb.
|
- Бұл бет үшін навигация:
- Микроскоптың ұлғайтуы
- Электрондық микроскоп
| Жаңа ашылуларға арналған аспаптар. Өткен ғасырлардағы ғалымдар мұқият жылтыратылған линзасы бар қарапайым оптикалық микроскоп көмегімен бактерияларды алғаш рет тапты. Қазіргі ғалымдар нанонысандарымен жұмыс жасау үшін әлдеқайда аса куатты жане күрделі құрал-жабдықтарды қолданады. Адам көзі 25 см қашықтықта 0,1 мм шамасынан кіші емес детальдарды көруге қабілетті. Өте ұсақ заттарды көру үшін микроскоп қолдану керек.
Қарапайым оптикалық микроскоптар молекулаларды қарастыруға болатындай күшті емес. Оптикалық микроскоптардың шекті ұлғайтылуы 1000 есе шамасында (100 есе шын өлшемі); олардың көмегімен 200 нм-ден кіші емес тетіктерді қарауға болады. Ал өте ұсақ нысандарды қарастыру үшін ғалымдар жарықты емес электрондарды қолданады. Электронды микроскоптар ғана өте ұсақ майда заттарды қарастыруға мүмкіндік береді. Микроскоптың ұлғайтуы 6ұл шама зерттелетін нысан көрінісінің, оның шынайы өлшемімен салыстырғанда микроскоппен қанша есе үлкейтіліп көрінетінін көрсетеді. Электрондық микроскоп. Нанонысандардың қасиеттерін қарастыру үшін ғалымдар әртүрлі типті электрондық микроскоптарды пайдаланады: - сканирлеуші электрондық микроскоп (scanning electron microscope) немесе СЭМ (SEM); - жарықтандырғыш электрондық микроскоп (transmission electron microscope) немесе ЖЭМ (TEM); - аналитикалық электрондық микроскоп (analitikal electron microscope) немесе AЭМ (AEM). Бұл құралдардың бірін нанонысанды зерттеу үшін таңдауда бірнеше факторлар әсер етеді, олар – нанонысанның табиғаты және зерттеушіні қызықтыратын нанонысанның параметрлері. Электрондық микроскоп электрондардың энергиясын үлгілердің көрінісін 10-нан 1000 000 есеге дейін ұлғайту үшін қолданылады. Сканирлеуші электрондық микроскоп (СЭМ). Сканирлеуші электрондық микроскопта фокустелген электрондар шоғыры жұқа және қалың үлгілердің бетін сканирлеу үшін қолданылады. Алынған суреттер зерттелетін нысанның үшөлшемді құрылымы туралы көз алдымызға елестетуге мүмкіндік береді. Қорытынды көрініс зерттелетін нысан бетінің көп жерлерін сканирлеу нәтижесінде алынған нүктелерді қосу арқылы алынады. 1-суретте СЭМ-нің бірнеше негізгі компоненттері көрсетілген. СЭМ 10-нан 100000-ға дейін ұлғайтуды қамтамасыз етеді, ол 5-10 нм шамасына дейін нысан тетігін қарастыруға мүмкіндік береді. Көптеген заманауи аса қуатты құралдар нысанды 1нм-ге жуық бөле отырып, 1000 000 есеге дейін үлкейтуге қабілетті. жүктеу/скачать 3,65 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|