Дәрістер тезистері
Аналитикалық электрондық микроскоп (АЭМ)
жүктеу/скачать 3,65 Mb.
|
- Бұл бет үшін навигация:
- Сканирлеуші зондтық микроскоптар (СЗМ)
- Пьезокристалдар
| Аналитикалық электрондық микроскоп (АЭМ). Материал құрылымы мен оның химиялық сипаттамаларын зерттеу мүмкіндігі наноғылым, наноматериалдар мен нанотехнологияның болашақтағы жетістігінің өте маңызды шарты болып табылады. Жарықтандырғыш электрондық микроскоп қатты үлкейткен кезде материалдардың ішкі бөлігін қарастыру үшін қолданылады. Материалдар мен олардың сипаттамасын ашу үшін көп мақсатты аспап бола тұра оны басқа әдістермен салыстыруға келмейді. Ол үшін жаңа материалдарды зерттеу әдістерінің барлығын қолдану қажет.
ЖЭМ-ді рентген және электрондық спектрометр сияқты аналитикалық құрал-жабдықтармен бірге, көбінесе, аналитикалық электрондық микроскоп деп атайды. Оның көмегімен электрондар мен үлгі атомдары соқтығысқан кезде туындайтын рентгендік сәулеленуді, сондай-ақ электрондар үлгі арқылы өткен кездегі энергияның жоғалуын талдауға болады. Осылай көміртегі мен азот атомдары арасындағы, сонымен қатар материал құрамын нақты анықтай отырып, темір мен никель атомдары арасындағы айырмашылықты байқауға болады. АЭМ көмегімен өлшемді ғана анықтап қоймай (0,1 нм-ге дейін), химиялық құрамын, молекулалық байланыс түрін және үлгінің электрлік өткізгіштігін білуге, яғни үлгі материалы мен оның компоненттерінің физикалық және химиялық қасиеті туралы толығырақ ақпарат алуға болады. АЭМ жаңа материалдарды және олардың құрылымын зерттеуде «ақылды» жамылғылар, отындық элементтер, магнитті наноқұрылымдар, жартылай өткізгіш кванттық нүктелер және т.б. кең қолданылады. Бұл қосымшалар үшін беттік қабаттарда, шекараларда және құрылымдардың мүмкін болатын ақауларында атомдардың жағдайын анық білу керек. Сканирлеуші зондтық микроскоптар (СЗМ) материалдардың беткі қабаттарын атомдық деңгейде зерттеу үшін қолданылады. Оның зерттелетін нысанның беттік қабатының қасиетін өте аз мөлшерде өзгергенін жазып және қадағалап отыратын зондтың «өткірленген инесі бар». Зонд марсоход сияқты сол кездегі биіктігін, өткізгіштігін және басқа қасиеттерін жазып отырып, үлгі бетін сканирлейді. СЗМ граммофонды пластинканың дыбыс жолдарының төбешік болуы мен шұңқыр болуын қайталап отыратын және солай жазбаны пластинкада шығаратын металл инесі бар көне граммофон сияқты жұмыс істейді. Зондтың жоғары және төмен кішкене қозғалысы зондтан шағылып, оның барлық дірілдерін оптикалық детекторға жеткізетін лазерлік сәулемен бекітіледі. Сәйкесінше, зондпен зерттелетін нысанның беттік қабаты арасындағы потенциалдар айырымы мен электр тогын өлшеуге болады. Сканирлеу режимінде зондтың орнын ауыстыру үшін пьезокристалдар қолданылады. Пьезокристалдар – бұл сыққан кезде потенциалдар айырымын (электрлік кернеу) тудыратын немесе керісінше, электрлік кернеудің әсерінен пішінін өзгертетін (сығылады және кеңейеді, айналады және иіледі) кристалдар. жүктеу/скачать 3,65 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|