Нанокіріспе: «Төменнен-жоғары» әдістер. Олардың түрлерін келтіріп, рөлін түсіндіру
жүктеу/скачать 1,39 Mb.
|
Нанокіріспе
- Бұл бет үшін навигация:
- Наноматериалдарды зерттеуде микроскопиялық пен спектрлік әдістерді салыстыра бағалау Бірінші спектрлік
- Микроскопиялық
| Наноматериалдарды қолданыс аясы.
Наноматериалдарды қолданыс аясы өте кең, мысалға, электрохимияда, катализде, суды тазалауда, медицинада, инженерия, бионанотехнология, нанокосметикада, электроникада және т.б. Наносымдар, диодтар жасауда, оптикада, жарық арналары, ақпарат өңдеу жүйелерінде,антиденелерді зерттеуде қолданылады.Наномедицинада нанороботтар жасалып жатыр, олар адам денесіне енген кезде, негізінен ауырған жерге барып, сол жерді емдейді, қазіргң кезде қатерлі ісікке пайдаланылуы.СВД арқылы алынған бірқабатты нанотүтікшені бионанотехнологияда дәрілік препараттарды тасымалдауда қолданды. Наноматериалдарды зерттеуде микроскопиялық пен спектрлік әдістерді салыстыра бағалау Бірінші спектрлік әдістерді айтсақ,оған Раман,Инфрақызыл,ЭПР спектросокпиясы, рентгенқұрылымдық талдау,ЭДАКС жатады.Бұл әдістермен көбіне фуллерендерді зерттеу кеңінен тараған(немесе алынған күйе құрамында фуллереннің масссалық үлесін),синтездеуде қолданған катализаторлар,үлгіде бар материалдарды көрсетеді, металл құрамын(сапалық)көрсетеді. Рентгенқұрылымдық талдаудың өзі сапалық талдауды көрсетеді,рентгенфлуоресценді талдау – үлгіде бар элементтерді көрсетсе,элементтік талдау – өзге элементтермен қатар көміртектің бар екенін көрстеді.Жалпы – элементтік құрам. Раман спетроскопиясы графен,күйе,нанотүтікшелерді зерттеуде қолданылады,мысалы күйеде G,D шыңдары байқалады,әрқайсысы сол материалды бөледі.Шыңдардың формасына байланысты да үлгіні модификациялауға болады:2Д пик графен мен нанотүтікше үшін әртүрлі болады(граенде ол жалпақтау,нанотүтікшеде ущеренный).Жалпы осы 3 пик арқылы идентификациялау мүмкіндігн аламыз.Радиалды тыныс алу модасы арқылы біз көп қабатты нанотүтікшелерді идентификациялаймыз. ЯМР – графен,фуллеренді формуламен шығарып береді. ИК -функционалды топтарды,ИПР- күйеде металл бөлшектері,магнит қасиеттерін мен магнитті гистерезисті көрсетеді. Микроскопиялық әдістерде біз морфологиялық,құрылымдық ерекшеліктері туралы мәліметті аламыз.Микроскоптық анализдерді СЕМ,СТЕМ,ЖЕМ,СЗМ,АКМ,оптикалық микроскоптармен жүргіземіз.Обьект арқылы өтетін электрондар ағыны арқылы обьектінің үлкейтілген бейнесін қарауға негізделген әдісетр. СЕМ – үлгі бетін көре аламыз,тек бетін ғана және жалпы қандай бөлшек екенін көреміз. ЖЕМ- бетімен бірге,үлгі құрылысы жайлы ақпарат аламыз. СТМ – беттің рельефі,құрамы мен құрылысы жайлы ақпарат береді,кванттық нүктелер мен КНТ зертеуде кеңінен қолданылады.СТМ -де сонымен қатар ұлгідегі атом орнын ауыстырып,белгілі бір квантты құрылымдарды алуға болады. АКМ – үйкеліс күші,магнитті,электростатикалық күштер,беттік потенциал,элеткр сыымдылық таралуын көрсетеді.Онымен 3Д топографиялық көрінсін аламыз. Жалпы бұл микроскоптрды жинақтай СЗМ деген топқа біріктіреді(скан зондты).Яғни зонд пен үлгі арасындағы электрлік кернеу мен тунелді ток беретін ақпаратқа негізделеді. жүктеу/скачать 1,39 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|