Кіріспе. Пән кристаллографияның негіздерін, оптикалық және электронды микроскопияны, рентген сәулелерінің физикасын және оларды қатты дене физикасында практикалық қолдануды; қатты денеде оның сәулеленумен өзара әрекеттесуі кезінде болатын процестерді; рентгендік құрылымдық талдауда қолданылатын негізгі әдістерді қарастырады; кристалды материалдарға қатысты стандартты дифракциялық картиналарға талдау жасалады. Микро қаттылықты өлшеу әдісі де қарастырылады және заттар мен материалдардың құрылымын зерттейтін құрылғыларға шолу жасалады.
Пәннің мақсаты: студенттердің заттардың құрамы мен құрылымын зерттеудің әртүрлі әдістері негізделген физикалық процестердің табиғаты мен заңдылықтарын түсінумен байланысты құзіреттіліктерді қалыптастыру; практикалық әдістер мен әдістерді игеру; Қолданбалы компьютерлік бағдарламаларды игеру; алған білімдерін кәсіби, ғылыми-зерттеу қызметінде қолдана білуді дамыту.
Пәннің міндеттері: физикалық теориялардың негізгі мағынасымен, рентген құрылымдарын талдау заңдылықтарымен, олардың ішкі қатынастарымен, тұтастығымен және т.б. таныстыру, сонымен қатар болашақ ғылыми мамандар үшін физикалық ұғымдар мен құбылыстарды және олардың заңдылықтарын игерудің, белгілі бір жағдайларда тиімді пайдаланудың қаншалықты маңызды екендігіне көз жеткізу.
Басқа пәндермен байланысы: физикалық химия, химия, жоғары математика, электротехника
Пререквизиттер: Оптика, атом және ядролық физика
Постреквизиттер: конденсирленген күй физикасы, тұтас орта физикасы
Пәнді оқыту нәтижелері: пәнді ойдағыдай меңгеру үшін студенттер: заттардың құрамы мен құрылымын зерттеу тәсілдерін, олардың физикадағы маңызын; заттардың құрамы мен құрылымын зерттеудің әртүрлі тәсілдерінің негізіндегі негізгі зерттеу әдістері мен физикалық процестер мен заңдылықтарды білуі тиіс. Алған білімдерін кәсіби, ғылыми-зерттеу және педагогикалық қызметте қолдана білу. Заттардың құрамы мен құрылымын зерттеу әдістерін меңгеру.