Бетехтин А. Г. Курс минералогии
жүктеу/скачать 4,45 Mb. Pdf көрінісі
|
- Бұл бет үшін навигация:
- Резонансные методы
| Рис. 33. Дифрактограмма эвдиалита. Пики кривой соответствуют максимумам интен
сивности излучения, дифрагированного на определенных семействах плоскостей решетки. Цифры у пиков выражают соответствующие межплоскостные расстояния в Е Глава 3. О методах детальных минералогических исследований 103 или чрезвычайно тонкодисперс ных коллоидных масс. Этот ме тод основан на свойстве электро нов закономерно рассеиваться при встрече с закономерно распо ложенными атомами, т. е. анало гично тому, что мы имеем для рентгеновских лучей. Разница заключается лишь в том, что рентгеновские лучи проходят вглубь кристаллического веще ства, тогда как электронный пу чок способен проникать в глуби ну всего лишь до 0,01 µ (т. е. до одной стотысячной миллиметра). Одним из весьма эффектив ных современных вариантов электронографии является ме тод микродифракции электро' нов, осуществляемый с примене нием электронного микроскопа, работающего в специальном режиме. В комбинации с микрозондовым ана лизом микродифракция доставляет ценнейшую информацию о кристалли ческой структуре и составе мельчайших минеральных частиц микронного масштаба, что требует, однако, приготовления весьма тонких препаратов. Резонансные методы исследования состава и структуры минералов весьма многочисленны, они включают различные виды спектроскопии вещества, среди которых особая роль в минералогии принадлежит инф ракрасной спектроскопии (ИКС), оптической спектроскопии в видимой области, а также спектроскопии электронного парамагнитного резонанса (ЭПР), ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и Мессбауэровской спек троскопии (ЯГР). Инфракрасная спектроскопия позволяет идентифицировать минера лы по эталонным спектрам, кроме того, данный метод позволяет полу чать ценную информацию о структурном состоянии вещества — коорди нации атомов и геометрии атомных группировок, о совершенстве кристаллического строения. В ИКспектрах также отражаются размеры и особенности формы минеральных частиц, что позволяет изучать сте пень дисперсности вещества. Оптическая спектроскопия в видимой области доставляет полезную информацию о природе, концентрации и структурном положении ионов хромофоров, что позволяет более полно изучить характер изоморфных замещений. Рис. 34. Дифрактометр Общая часть 104 Спектроскопия ЭПР позволяет как устанавливать наличие и поло жение в структуре атомов с неспаренными электронами (ионы группы железа и платины, редкоземельные элементы), так и определять тип и концентрацию электроннодырочных центров. Из спектров ЯМР удается извлекать ценнейшие сведения о положе нии и состоянии протонов в структуре минералов, в то время как рентге ноструктурные методы практически не способны локализовать протон. Мессбауэровские спектры используются для выяснения состояния атомов железа в структуре (концентрация, валентность и особенности координации). жүктеу/скачать 4,45 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|