79
Метод ультразвуковой дефектоскопии основан на свойстве ультразву-
ковых колебаний (от 20 кГц до 10 ГГц) проникать в толщу тела и отра-
жаться от границ раздела двух сред.
При переходе из одной среды в другую, при прохождении через неодно-
родности, разрывы сплошностей данной среды ультразвуковые волны пре-
терпевают изменения (наблюдаются явления преломления и отражения).
Следовательно, при наличии воздушного зазора между излучателем ультра-
звуковых волн и испытуемым образцом имеет место большое отражение.
Поэтому во время дефектоскопии между ультразвуковым искателем и образ-
цом необходимо помещать связующую среду (масло, воду, эмульсии и др.).
Чаще всего при ультразвуковой дефектоскопии в качестве источников
ультразвуковых волн (УЗВ) используются пьезоэлектрические преобра-
зователи.
Многие кристаллы (кварц, сульфат лития, титанат бария, метаниобат
свинца и др.) обладают пьезоэлектрическим эффектом, который выража-
ется в том, что при действии сжимающих или растягивающих усилий на
поверхностях пластин, вырезанных из кристаллов, появляются электриче-
ские заряды пропорциональные механической нагрузке. Знаки зарядов ме-
няются при изменении усилий, т. е. при переходе от растяжения к сжатию.
Такой пьезоэлектрический эффект называется прямым и служит для
обнаружения ультразвуковых волн.
Обратный пьезоэлектрический эффект используется для получения
УЗВ. Заключается он в том, что при прило-
жении переменного электрического напря-
жения к пластине, последняя начинает коле-
баться.
Пьезоэлектрическая пластина монтируется
в блоке, который называется искателем. На
рис. 13.1 приведена схема простейшего иска-
теля. Напряжение в виде коротких импульсов
подаётся к поверхности пьезопластины, ко-
торая начинает колебаться. Упругие волны от
пьезопластины, с одной стороны, попадают в
поглощающий
материал, а с другой – в
деталь
через протектор и связующую среду.
5
2
4
3
1
Рис. 13.1. Схема нормаль-
ной искательной головки:
1 – связующая среда;
2 – из-
лучатель;
3 – корпус;
4 – пог-
лощающий материал;
5 – вы-
воды пьезопластины
81
Рис. 13.3. Схема ультразвукового дефектоскопа:
1 – генератор
импульсов;
2 – генератор развёртки;
3 – индикатор расстоя-
ния;
4 – передающий искатель;
5 – приёмный искатель;
6 – деталь;
7 – усилитель;
8 – электронно-лучевая трубка
В случае наличия в детали дефекта часть УЗВ отразится от него (эхо-
сигнал), а остальная часть от противоположной стороны (донный сигнал).
Усиленный эхосигнал попадает на пластины электронно-лучевой
трубки раньше донного. Поэтому на экране левее донного появляется
сигнал от дефекта.
Дефектоскоп позволяет измерить расстояние до дефекта и оценивать
его размеры.
Достарыңызбен бөлісу: