Учебно-методический комплекс по дисциплине «Оптические методы контроля и анализа» для студентов Казнту имени К. И. Сатпаева по специальности 050716


Распределение рейтинговых баллов по видам контроля



бет3/29
Дата06.01.2022
өлшемі1,12 Mb.
#11423
түріУчебно-методический комплекс
1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   29
Байланысты:
УМКДСОМКиА1

Распределение рейтинговых баллов по видам контроля


Вид итогового контроля

Вид контроля


Баллы

Курсовой проект



Итоговый контроль (КП)

40

Рубежный контроль

20

Текущий контроль

40




Всего

100

Сроки сдачи результатов текущего контроля должны определяться календарным графиком учебного процесса по дисциплине (таблица 4). Количество текущих контролей определяется содержанием дисциплины и ее объемом, которые указывается в учебно-методическом комплексе дисциплины.

Таблица 4



Календарный график сдачи всех видов контроля

по дисциплине «Оптические методы контроля и анализа»



Недели

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

Виды контроля

СР

Л1

СР

Л2

СР

Л3

Кл

РК1


СР

Л4

СР

Л5

СР

Л6


РК2

Балл

2

3

2

3

2

3

10

10

2

3

2

3

2

3

10

Виды контроля: Л – лабораторная работа, СР – самостоятельная работа,

РК – рубежный контроль, Кл – коллоквиум



Студент допускается к сдаче итогового контроля при наличии суммарного рейтингового

балла ³ 30. Итоговый контроль считается в случае набора ³ 20 баллов.



Оценка знаний студентов

Оценка



Буквенный эквивалент

Рейтинговый балл

(в процентах %)



В баллах

Отлично

А

95-100

4

А-

90-94

3,67

Хорошо

В+

85-89

3,33

В

80-84

3,0

В-

75-79

2,67

Удовлетворительно


С+

70-74

2,33

С

65-69

2,0

С-

60-64

1,67

D+

55-59

1,33

D

50-54

1,0

Неудовлетворительно

F

0 -49

0


Вопросы для проведения контроля по 1 модулю:

  1. Что такое когерентность?

  2. Что такое поляризация?

  3. Основные характеристики электромагнитного излучения?

  4. Материалы полупроводниковой оптоэлектроники.

  5. Основы дискретной оптоэлектроники.

  6. Элементы зонной теории полупроводников.

  7. Лавинное умножение.

  8. Фотоэффект.

  9. Абсолютно черное тело.

  10. Люминесценция.

  11. Энергетические и световые характеристики излучения.

  12. Тепловые источники излучения.

  13. Люминесцентные источники излучения

  14. Элементная база оптоэлектроники.


Вопросы для проведения контроля по 2 модулю:

  1. Общая характеристика фотоприемников.

  2. Кремниевые p-i-n фотодиоды.

  3. Кремниевые лавинные фотодиоды

  4. Фоточувствительные приборы с зарядовой связью.

  5. Фотодиоды, фототранзисторы, фототиристоры.

  6. Фотоприемники ИК - диапазона.

  7. Оптопары, оптроны.

  8. Элементы интегральной оптики.

  9. Оптоэлектронные датчики.

  10. Оптические связи в мощных электронных приборах.

  11. Что такое интегральная оптика?

  12. Что является элементной базой интегральной оптики?

  13. Что представляют собой интегрально-оптические модуляторы?

  14. Как осуществляется детектирование оптических сигналов в устройствах интегральной оптики?

  15. Что такое интегрально-оптическая схема?


Перечень вопросов для проведения промежуточной аттестации

  1. Оптические методы передачи, обработки и хранения информации.

  2. Твердотельные лазеры.

  3. Фотоприемники.

  4. Полупроводниковые лазеры.

  5. Лазеры.

  6. Диэлектрические волноводы и элементы кристаллооптики.

  7. Тепловые источники излучения.

  8. Люминесцентные источники излучения

  9. Элементная база оптоэлектроники.

  10. Индикаторы.

  11. ИК-светодиоды.

  12. Общая характеристика оптических элементов.

  13. Исследование вольт-яркостной характеристики электролюминесцентных конденсаторов.

  14. Фотодиоды с барьером Шоттки.

  15. Светоизлучающий диод; конструкция и принцип действия, материалы.


1.9 Политика и процедура курса.
Требования: студент обязан посещать занятия, своевременно сдавать отчет по всем видам контроля. В случае пропуска занятий, не зависимо от причин, должен отрабатывать пропущенные занятия. Своевременно сдавать лабораторные работы, допускается к следующей лабораторной работе при условии сдачи предыдущей лабораторной работы соблюдать дисциплину не опаздывать на занятия. После сдачи всех видов контроля, студент допускается к сдаче итогового контроля.

2. СОДЕРЖАНИЕ АКТИВНОГО РАЗДАТОЧНОГО МАТЕРИАЛА


2.1 Тематический план курса

Наименование темы


Количество академических часов

лекции

Лаборатор

ные


занятия

СРС


СРСП



1

2

3

4

5

1. Введение. Взаимодействие света с веществом. Отражение света. Прохождение света от одной среды в другую.

2

2

3

3

2. Преломление света. Рефрактометр. Фронт плоской монохроматической волны. Прохождение света с преломлениями.

2

3

3

3. Дисперсия света. Групповая скорость. Резонансные частотные колебания. Нормальная и аномальная дисперсия.

2

2

3

3

4. Поглощение света. Закон Бугера - Бера. Плунжерный колориметр. Нефелометрия.

2

3

3

5. Спектры. Дисперсионный спектроскоп. Дисперсионный спектр. Призменный спектроскоп. Спектрограф.

2

2

3

3

6. Поляризация света. Поляризованные волны. Анализатор и поляризатор. Закон Брюстера.

2

3

3

7. Двойное лучепреломление. Поляроиды. Сферические волны: обыкновенная и необыкновенная. Призма Николя.

2

2

3

3

8. Исследование микроструктуры в поляризованном свете. Вращение плоскости колебаний поляризованного света. Сахариметрия.

2

3

3

9. Спектроскопия поглощения излучения в ультрафиолетовом и видимом спектре. Спектрометры. Принцип работы.

2

2

3

3

10. Атомная эмиссионная спектроскопия, Атомно-абсорбционная спектроскопия и флуоресцентная спектроскопия. Атомно-абсорбционная спектроскопия. Флуоресцентная спектроскопия.

2

3

3

11. Источники некогерентного излучения. Светоизлучающие диоды. Нормализованные спектры некоторых источников излучения. Принцип работы светодиодов и основные характеристики.

2

2

3

3

12. Приборы когерентного излучения. Физические основы усиления и генерации лазерного излучения. Квантовые переходы в лазерном веществе. Принцип работы лазера и их разновидности.

2

3

3

13. Индикаторные приборы. Жидкокристаллические индикаторы и их принцип работы. Структуры жидких кристаллов. Ячейка на основе динамического рассеяния.

2

3

3

3

14. Электролюминесцентные индикаторы. Устройство и принцип действия.

2

3

3

15. Плазменные панели и устройства на их основе.

Индикаторные ячейки и их разновидности.



2

3

3

Всего

30

15

45

45



2.2 Конспект лекционных занятий
Лекция 1.

Введение. Взаимодействие света с веществом. Отражение света.

Состав вещества является физической величиной, характеризующей свойство этого вещества, оцениваемое количественно. Определение состава и концентрации веществ (аналитическое измерения) – одна из важных областей применения измерительной техники. Такой анализ широко распространен в системах контроля за многими технологическими процессами (химии, нефтехимии, металлургии и др.), а также в медицинских, биологических и других видах исследований. Примерами оптических устройств являются: рефрактометр, адсорбционный инфракрасный газоанализатор и др., которые построены на принципах фотометрии, колометрии, рефрактометрии, полярометрии.

Оптические методы измерений состава и свойств веществ широко внедряется в системы автоматического управления различными технологическими процессами с использованием ЭВМ. Это позволяет автоматизировать и сами измерения, а также совершенствовать и расширять возможности этих методов.

Взаимодействие света с веществом. Отражение света. Рассмотрение взаимодействия света с веществом с точки зрения со­временной физики требует учета как волновых свойств электронов, так и двойственных корпускулярно-волновых свойств света. Однако приближенное решение основных вопросов, связанных с явлениями, происходящими при прохождении света внутри среды (поглощение) или через границу различных сред (отражение, прелом­ление и дисперсия), может быть дано в рамках классической физики на основании электронной теории строения вещества и электромаг­нитной теории света.

Согласно теории Лоренца, электроны в атомах и молекулах удер­живаются в положении равновесия квазиупругими силами притяже­ния к ядру и под действием внешних сил могут' совершать около этого положения гармонические колебания, собственная частота ко­торых обусловлена строением атома или молекулы. Колебания сопро­вождаются излучением световых волн соответствующей частоты.

Рассмотрим явления, происходящие на границе двух различных сред, например при переходе световой волны из вакуума (или воз­духа) в какой-либо диэлектрик. Электрическая составляющая поля падающей волны возбуждает в атомах, ионах и молекулах вещества вынужденные колебания электронов с частотой, равной частоте при­ходящей волны. При этом электроны излучают вторичные световые волны такой же частоты, т. е. когерентные как между собой, так и с падающей волной, амплитуда и фаза которых зависят от соотношения между собственной частотой электронов и частотой приходящей волны.

В однородной среде вторичные волны, интерферируя как между собой, так и с первичной (падающей) волной, образуют результирую­щую волну такой же частоты, но отличающуюся по амплитуде и фазе от падающей волны. Результирующая волна распространяется частично в глубь вещества (преломленная волна), но с иной фазовой скоростью, частично обратно в вакуум (отраженная волна) с той же фазо­вой скоростью, как и падающая волна.

Фазовая скорость в веществе может увеличиваться и уменьшаться Большее значение имеет уменьшение скорости, которое происходит потому, что вследствие наложения вторичных волн колебания в результирующей волне в каждой последующей точке среды запазды­вают по фазе относительно предыдущей точки в большей степени, чем это имеет место у падающей волны (в вакууме). Вследствие этого изменение фазы колебаний на 2 соответствующее периоду Т коле­бания, происходит на меньшем расстоянии, чем в падающей волне, т. е. длина волны λср в среде меньше длины волны λо в вакууме: λср < λ0 , но λср = vТ и λ0 = сТ; следовательно, и фазовая скорость (скорость перемещения поверхностей одинаковой фазы) в среде меньше, чем в вакууме: v < с (период остается неизменным).

Разница между скоростями света в вещественной среде v и вакууме с зависит от интенсивности вторичных волн, излучаемых атомами вещества и накладывающихся на падающую волну. Амплитуда вторичных волн по общему закону для вынужденных колебаний зависит от соотношения частоты ωВ первич­ной волны и собственной частоты ω0 колеба­ний электронов (амплитуда достигает макси­мума при резонансных колебаниях, когда ωВ = ω0. Поэтому скорость v света в среде зависит не только от природы среды, в кото­рую свет проходит, но и от частоты падаю­щего света.

Если свет, пройдя слой вещества, снова выходит в вакуум, то в последнем волна распространяется с такой же фазовой скоростью, как и падающая волна, но с начальной фазой, равной фазе результирующей волны при выходе из вещества.

Кроме вторичных когерентных волн, образующих преломленную волну, в определенных условиях в веществе могут возбуждаться вторичные некогерентные волны, т. е. может происходить рассеяние света; колебательное движение электронов может вызывать явления, не сопровождающиеся вторичным излучением, например тепловой эффект (поглощение света и т. п.). На все эти процессы расходуется энергия результирующей волны в веществе и потому интенсивность ее постепенно уменьшается.



Таким образом, при переходе из вакуума в вещественную среду или из одной среды в другую в общем случае свет частично отра­жается от поверхности раздела, частично, преломляясь, проходит внутрь второй среды, в которой в свою очередь частично поглощается (или рассеивается) и частично проходит сквозь нее. Это показано условно на рис. 1 с помощью векторов, характеризующих световые потоки: Фо - падающий, Фr - отраженный и Фn - преломленный, который в свою очередь разделяется на Фа - поглощенный, или рас­сеянный, и Фt - прошедший сквозь слой среды. В соответствии с законом сохранения энергии имеем Ф0 = Фr + Фn , где Фn = Фа + Фt.

Рисунок 1.1. Прохождение света от одной среды в другую.


Соотношение между потоками зависит от ряда условий (см. ниже) и в различных случаях может быть весьма различными.

Отражение света от гладких, полированных поверхностей (неиз­бежные при обработке шероховатости поверхности при этом должны быть меньше длины волны света) называется правильным, или зер­кальным. Заметим, что, согласно изложенному выше, отражение света происходит не от геометрической поверхности раздела сред, а от некоторого незначительного по глубине слоя атомов или молекул, прилегающих к этой поверхности.



Направление лучей при зеркальном отражении можно установить с помощью принципа Гюйгенса. Пусть АВ (рис.1.2) есть фронт плос­кой монохроматической волны, подошедшей к границе MN раздела сред в момент времени t1. В точке А образуется вто­ричная круговая волна, распространяющаяся в пер­вой среде с такой же ско­ростью v, как и падающая волна.

Рисунок 1.2. Направление лучей при зеркальном отражении.
Определим положе­ние фронта CD отраженной волны в момент времени t2, когда фронт падающей волны дошел от точки В до точки С на границе сред. За время At = t2 t1. вторич­ная волна из точки А распространится на расстояние AD - ВС = v ∆t. Строим фронт CD отраженной волны как касательную к вторичной волне в точке D (между точками Л и С построена еще одна вторичная круговая волна). По построению, ∆ABC = ∆ADC, соответственно ∟ ВАС = ∟ DC А, а следовательно, равны между собой также и углы падения 1 и отражения 2 лучей.

Отсюда следует, что угол отражения равен углу падения.

Доля отраженного света, или коэффициент отражения, опреде­ляемый по формуле r = Фr0, зависит в основном от оптических свойств граничащих сред, от угла падения лучей и от длины волны света.

Коэффициент отражения для металлов (порядка 0,8—0,9) значи­тельно выше, чем для диэлектриков (0,03—0,05). Это объясняется тем, что металлы содержат свободные электроны, которые легко приводятся в колебательное движение и интенсивно излучают вторич­ные волны, поэтому уже в самых поверхностных слоях металла почти вся энергия падающей волны передается отраженной.

Коэффициент отражения имеет наименьшую величину при перпен­дикулярном падении и значительно возрастает, приближаясь к 0,8—0,9 для лучей, падающих под углом, близким к 90°. Эта зависи­мость особенно выражена у диэлектриков. Зависимость коэффициента отражения от длины волны характерна преимущественно для металлов: с уменьшением длины волны коэф­фициент отражения падает, и довольно значительно. Например, для серебра он начинает уменьшаться в фиолетовой области видимого света, а в ультрафиолетовой снижается до нескольких процентов.

Если неровности отражающей поверхности соизмеримы с длиной волны света и расположены беспорядочно, то вторичные волны те­ряют когерентность и не образуют общей отраженной волны. Проис­ходит поверхностное рассеяние света, которое называется диффузным отражением. Такие поверхности называются матовыми. Интенсивность диффузно отраженного света (коэффициент отражения) зависит от состояния поверхности (размера шероховатостей) и длины волны света; она обратно пропорциональна второй степени длины волны:

Iдиф = а/λ2.

Правильное отражение света — явление, характерное для опти­ческих приборов. В окружающей природе преимущественно встреча­ется диффузное отражение, которое делает поверхности тел видимыми под различными углами наблюдения. Коэффициент диффузного отра­жения от поверхностей называется альбедо. Его значения для неко­торых поверхностей приведены в таблице:


Поверхность, покрытая окисью магния..................... 0,98

Белая бумага (меловая)................................................ 0,85

Белая оштукатуренная стена........................................0,7

Кожа человека (в среднем)...........................................0,3

Обои серые.....................................................................0,2

Бумага черная................................................................0,05

Черный бархат...............................................................0,005
Литература: 2 осн. [381-384].

Контрольные вопросы.

1. Что такое доля отраженного света?

2. Когда отражения называется правильным?

3. Когда отражения называется зеркальным?

4. Доказать что угол отражения равен углу падения?

5. Правильное отражение света.

6. Что такое альбедо?




Достарыңызбен бөлісу:
1   2   3   4   5   6   7   8   9   ...   29




©emirsaba.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет