Сырғанау бұрышы дегеніміз түсетін сәулемен кристаллографикалық жазықтықтықтың арасындағы бұрыш. Түскен рентген сәулесі кристал түйінінде орналасқан атомдарды қоздырады. Осының нәтижесінде қозған атомдар 1' және 2' екінші ретті когерентті толқындардың көзі болып табылады және олар бірін–бірі интерференцияға ұшыратады. Толқындардың интерференциясы олардың жол айырымдарымен анықталады. Суреттен жол айырымы 2dsin-ға тең. Интенсивтіліктің максимумдарын дифракциялық максимумдар деп атайды. Интенсивтіліктер максимумдары атомдар жазықтықтарынан шағылған фазалары бірдей толқындардың бағыттарында байқалады.
Сәулелердің шағылуы Вульф–Брэгг өрнегін қанағаттандыратын шарт бойынша орындалады:
(8)
Жазықтықтардың кристалдағы саны өте көп болғандықтан оны өте көп саңылаулы дифракциялық тор ретінде қарастыруға болады: максимумдар өз орындарында қалады, алайда олар әлдеқайда сүйір болып келеді.
Егер монохроматты рентген сәулелері кез келген бағытта түсетін болса дифракция байқалмайды.
Дифракция пайда болуы үшін кристалды бұра отырып, сырғанау бұрышын табу қажет.
Кристалды орнынан қозғалтпаған жағдайда тұтас рентген сәулесін түсіру арқылы дифракциялық бейнені алуға болады. Рентген сәулесінің тұтас спектрін алу үшін арнайы рентген түтіктерін пайдаланады. Осы жағдайларда (8)-ші өрнекті қанағаттандыратын рентген сәулесінің әйтеуір бір - толқын ұзындығы табылады.
Вульф–Брэгг өрнегіне рентгенқұрылымдық талдау және рентгендік спектроскопия негізделеді.
1. Ренгтенқұрылымдық талдау бойынша рентген сәулелерінің дифракциясының заңдылығына сүйене отырып зерттелетін заттардың құрылымы – структурасы анықталады. Толқын ұзындығы белгілі рентген сәулесін кристалға түсіре отырып, дифракция құбылысынан мен m – ды өлшеп, жазықтықтар арақашықтығын – d- ны табуға болады.
Вульф–Брэгг өрнегі электрондар мен нейтрондардың дифракциялары үшін де орындалады – осы әдістерді электронография, нейтронография деп атайды.
Достарыңызбен бөлісу: |