Нанокіріспе: «Төменнен-жоғары» әдістер. Олардың түрлерін келтіріп, рөлін түсіндіру
Наноматериалдарды және наноқұрылымдарды микроскопиялық зерттеу әдістері
жүктеу/скачать 1,39 Mb.
|
- Бұл бет үшін навигация:
- Наноматериалдарды және наноқұрылымдарды спектрлік зерттеу әдістері.
| Наноматериалдарды және наноқұрылымдарды микроскопиялық зерттеу әдістері.
Бұл әдістерде біз олардың морфологиялық,құрылымдық ерекшеліктерін зерттеуге болады.СЭМ только көріністі берсе, ЖЭМ толық ішкі құрылым туралы ақпарат береді.АКМ арқылы кантилевер арқылы графеннің 3Д топографиялық көріністерін,графеннің пленкаларын, чешуйкаларын көрсетеді. Наноматериалдарды және наноқұрылымдарды спектрлік зерттеу әдістері. Спектрлік әдістер басты түрлеріне ИК спектроскопия, Раман спектроскопиясы, Рентгенқұрылымдық талдау,Рентген флуоресцендтік талдау,Энергодисперсионды талдау(ЭДАКС) Элементтік талдау,Масс спектрлік әдістер.Көбінесе Масс спектроскопия әдісі бұл фуллерендерді зерттеуде кеңінен қолданылады.Мысалға, алынған күйе құрамындағы фуллереннің массалық үлесі қанша екенін анықтайды. Элементтік талдау жалпы наноматериалдар үшін өте тиімді әдіс. Себебі онда наноматериалдарды синтездеу барысында қандай да бір катализаторлар қолданылса (тұз ерітінділері, подложка және т.б.), үлгіде қандай элементтер бар (мысалы, көміртегі және басқа да металдардың құрамы қанша екенін), сандық анализ жасап береді.Ал рентген флуоресцендтік талдау сапалық анализге жақсы. Раман спектроскопия әдісі арқылы нанотүтікшелерді, графенді, күйені, фуллерендерді идентификациялағанда, негізгі шыңдарын,қабат сандарын көруге болады, мәселен көбіне аморфты көміртегі күйеге тән шыңдар олар G мен D. Фуллерендер үшін ИК да мысалға негізгі 4 шың (576, 526, 1128, 1428) болады. Наноматериалдарды функционализациялаған кезде,қандай да бір функционалдық топтардың бар екенін анықтай аламыз.Графен мен нанотүтікшелердің 2D пиктерінде айырмашылық болады,біреуінде жалпақ, екіншісінде одан жіңішке болады. Көпқабатты нанотүтікшеде радиалды тыныс алу модалары болмайды, ал бірқабатты нанотүтікшеде(200-400 диапазон аралығында) болады.Бет анализді де спектрлік әдіске жатқызуға болады, бұл әдіс кеуектердің таралуына негізделген болып келеді.ЭПР күйе бөлшектерінде бір метал құрамды бөлшектер болса, күйенің бетінде металдар болса, магниттік қасиеттері болса ферромагниттік гистерезис болады да,металдар бар екендігін анықтайды.ЯМР формуламен шығарып береді. жүктеу/скачать 1,39 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|