“Аморфты материалдар” лекциялары курсы
жүктеу/скачать 5,58 Mb.
|
ÐмоÑÑ Ð¼Ð°ÑÐµÑ 15 даÑиÑ
| 8- Дәріс
Ол 2θ режимде бұрыштың шашырауына рентгендік сәулелердің келесі тәуелділіктерін зерттейді: -үлгілердің (кварцтік)ұстағышына аянды(фон)(8.3 сурет); -шыны төсенішке рентгендік сәулелердің шашырау интенсивтілігін(8.4 сурет); -l ≈ 4.41 мкм қалыңдығы бар As2 Se 3 аморфты пленкадағы,шыны төсеніштегі және кварцтік ұстағыштағы рентгендік сәулелердің шашырау интенсивтілігінің суммасын(8.5 сурет). 8.3-8.5 суреттердегі қисықтарға сүйене отырып,а-As2 Se3 пленкасы үшін рентгендік сәулелердің дифракциясының интенсивтілігі 8.6 суретте көрсетілген. 8.3 сурет.Үлгілердің кварцтік ұстағышы(аясы(фон)) үшін рентгендік сәулелердегі дифракцияның интенсивтілік қисығы. 8.4-сурет. Шыны төсегіш үшін рентгендік сәулелердегі дифракцияның интенсивтілік қисығы. 8.5 сурет. Ая(фон) мен төсеніштің енгізілгенін есептей отырып,а-As2Se3 ТЫ(вакуумдағы термиялық ыдырау)-пленкадағы рентгендік сәулелердегі дифракцияның интенсивтілік қисығы. 8.6 сурет.ТЫ әдісі арқылы жасалған а-As2Se3 пленкасы үшін (аяны(фон) алып тастаған жағдайда)рентгендік сәулелердегі дифракцияның интенсивтілік қисығы. Поляризацияны,жұтылуды,когеренттік емес шашырауды ескеріп,атомдық бірліктерге нормалауды(нормировка) жургізсек,онда біз а-As2Se3 ТЫ-пленкасы үшін дифракцияның бұрышына рентгендік сәулелердің шашырау интенсивтіліктің тәуелділігін аламыз(8.7 сурет). Жоғарыда мазмұндалған түзетулерді ескере отырып,I(S) үшін алынған осындай мәліметтерді (8.11)теңдеуге қойсақ, а-As2Se3 ТЫ-пленкасы үшін атомдық тығыздықтың радиалды үлестірілуінің функциясы есептелінеді(8.8 сурет).Бұған қоса осы суретте гипотетикалық ФРРА көрсетілген(2 қисық). Атомдық тығыздықтың радиалды үлестірілуінің функциясының қисығынан координациялық сфералардағы бірінші R1 және екінші R2 мәндері анықталады.Атомдар арасындағы байланыстардың валенттік бұрышы келесі формула арқылы есептелінген: Атомдар арасындағы байланыстар тек гетерополярлы болады деп есептеп,технометриялық құрамның екікомпоненттік жүйесі кезінде ФРРА-дағы екінші шыңы(пик) (R2) және оның жартылай ені H химиялық байланыстағы ϕ бұрыштың орташа мәнісі және оның Δϕ өзгеруінің ауқымы туралы мәлімет береді: L құрылымындағы орташа реттегі локальдық аймақтардың созылу қашықтығы рентгендік сәулелердің шашырау қисықтарындағы бірінші айқын дифракциялық шыңнан(пик) Селяков-Шеррер формуласы арқылы бағаланады: Мұндағы β(θ) -бірінші айқын дифракциялық максимумның интегралды жартылай ені; 2θmaх-FSDP максимумды көрсетеді. Вульф-Брегг формуласы арқылы орташа реттегі құрылымның «квазипериодын» бағалауға болады.Осы орташа реттегі құрылымындағы «квазипериодттың» қайталануы корреляцияның кейбір аймағының шегінде FSDP-ның пайда болуына әкелуі мүмкін: 8.7 сурет. ТЫ-әдісі арқылы жасалған а-As2Se3 пленкадағы рентгендік сәулелердің дифракциясының интенсивтілік қисығы. 8.8 сурет. а-As2Se3 ТЫ-пленкалардағы атомдық тығыздықтың радиалдық үлестірілу функциясы. 1- I(2θ) тәуелділіктің берілгендері бойынша есептелінген, 2- гипотетикалық қисық. 8.2 кесте.ТЫ- және ЖЖ-әдістері арқылы алынған аморфты және . а-As2Se3 шыны тәріздес пленкалардағы атомдық құрылымының жақын және орташа реттегі параметрлері.
Алынған нәтижелерден шығатын қорытынды:аморфты материалдардағы атомдық құрылымдардың жақын және орташа реттердегі параметрлері оларды алу тәсіліне тәуелді болып келеді. жүктеу/скачать 5,58 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|