Дисперстік жүйелерді Коагуляциялау жӘне тұрақтандыру Коллоидтық жүйелердің жалпы сипаттамасы

Дисперстік бөлшектер арасында, олардың бірдей зарядтарының әсерінен тебісу пайда болады. Бұл тебісуді Кулон заңының негізінде бағалау мүмкін емес, себебі, бөлшек бетіндегі заряд қарсы ион зарядымен бейтараптанған. Бөлшектің қос электрлік қабаты бүркескенде тебісу пайда болады. ҚЭҚ бүркескенде, жақындасқан беттер арасындағы иондарға екі коллоидтық бөлшектердің ішкі астарынан әсер еткен күштер, сыртқы астармен толық экрандалмайды. Мұндай өзгерістер иондық атмосфераның бүркескенге дейінгі болған статистикалық тепе-теңдігін бұзып, зарядтың қайта таралуына алып келеді. Жүйенің электр тепе-теңдігі бұзылып, нәтижесінде электр табиғатының қалыптаспаған күштері пайда болады.

Бөлшектерді қоршаған электролиттің басқа нүктелеріне қарағанда, бүркесу аймағындағы иондар концентрациясы өзгешелеу болып, ол осмостық сипаттағы қосымша күштің пайда болуын туғызады.

Иондық - электрстатикалық әрекеттесу күштерін есептеуді Дерягин мен Фрумкин жүргізіп, сонан соң Фервей мен Овербек құптады.

Жақындасқан бөлшектер арасындағы сұйықтықтың жұқа қабатшасында пайда болатын теориялық негізделген сыналық ажыратушы қысым ұғымын Дерягин теорияға енгізді. Сұйықтың жұқа қабатшасындағы қысым Р мен қабатшамен тепе-теңдіктегі көлемдік сұйық фазадағы қысым Р₀ айырымы – сыналық ажыратушы қысымды (П) береді.

Дерягин мектебінің дамытқан қазіргі заманғы көзқарастары, сыналық ажыратушы қысымның төрт негізгі құрамдастарын айқындап берді:

а) ҚЭҚ өзара бүркесуімен қамтылған электрстатикалық (оң үлес);

б) вандерваальс тартылу күшімен қамтылған молекулалық (теріс үлес);

в) молекулалық адсорбциялық қабат бүркесуінен пайда болатын адсорбциялық, ол қабатша жағына осмостық ағымды туғызып, тебісуге алып келеді;

г) еріткіштің ерекше құрылыммен шекаралық қабатының түзілуімен байланысты құрылымдық (оң үлес).

мұндағы  – зарядтың көлемдік тығыздығы, _i - мүмкіндігінше жақындасқан жазықтықтың потенциалы.

Бұдан, тебісу энергиясы U_rep концентрацияның (с₀), валенттіліктің (z), ҚЭҚ қалыңдығына  функция болып табылады, және с₀, z өсіп, _i азайған сайын те-бісу азаяды.