20
гретым катодом (
f) в ионизационной камере (
I), образующиеся части-
цы поступают в масс-анализатор. Заряд наноразмерных ионов обычно
известен, так что практически определяется их масса.
Рис. 3.4. Схема масс-спектрометра:
А – ускоряющая пластина, или экс-
трактор,
Е – электронная ловушка,
f – нить накаливания,
I – ионизаци-
онная камера,
L –
фокусирующие линзы,
R – отражатель частиц,
S –
щели
3.3. Микроскопические методы
Микроскопия подразделяется на три большие области: оптиче-
ская, электронная и сканирующая зондовая. В оптической и электрон-
ной микроскопии используются дифракция, отражение или преломле-
ние электромагнитного излучения или
электронных пучков при взаи-
модействии с исследуемым объектом с последующей регистрацией из-
лучения для построения изображения. Это может происходить как при
облучении поля изображения образца целиком,
например, в
обычной
оптической микроскопии или просвечивающей
электронной микро-
скопии, так и при сканировании образца пучком маленького размера,
например, в конфокальной лазерной сканирующей микроскопии или
сканирующей электронной микроскопии.
Достарыңызбен бөлісу: